半導体(後工程) 検査・評価・その他 FESEM・CDSEM 走査電子顕微鏡 SEM メーカー日本電子 型式JSM6335F 年式2001 外寸 展示場 価格商談中 ASK管理No.K50785 在庫確認・お問合せ 機械仕様 添付ファイル ※ 以下の画像をクリックをすると拡大します