半導体(後工程) 検査・評価・その他 FESEM・CDSEM 走査電子顕微鏡 SEM メーカー日本電子 型式JCM-5700 年式2007 外寸 展示場塩山テクニカルセンター 価格売却済 ASK管理No.K80338 在庫確認・お問合せ 機械仕様分解能5nm ×8~×300,000 最大資料サイズ150nm 駆動方式2軸モータ XY軸40/80mm Z軸5~48mm R軸360° T軸-10~90° 最大資料サイズ150mmΦ 資料厚43mm 元素分析機能(EDS検出器JED-2300) 添付ファイル 動作チェックシート ※ 以下の画像をクリックをすると拡大します