AFM(原子間力顕微鏡)

メーカーエスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社

型式L-trace Ⅱ

年式2012

展示場九州テクニカルセンター

価格売却済

お問合番号L70649

機械仕様スキャン方式 D/Aコンバーター制御
最大電圧±200V
スキャンローテーション 最大±180°
同時測定最大4
AC100 1.5A 50/60Hz

添付ファイル

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