半導体(後工程) 検査・評価・その他 FIB・原子間力顕微鏡 原子間力顕微鏡(AFM) メーカーSII エスアイアイナノテクノロジー 型式L-trace Ⅱ 年式2012 外寸900x900x1500 展示場九州テクニカルセンター 価格商談中 ASK管理No.L70649 在庫確認・お問合せ 機械仕様試料ステージ:Φ150(6in) スキャン方式 D/Aコンバーター制御 最大電圧±200V スキャンローテーション 最大±180° 同時測定最大4 AC100 1.5A 50/60Hz 添付ファイル 動作チェックシート ※ 以下の画像をクリックをすると拡大します