原子間力顕微鏡(AFM)

メーカーSII エスアイアイナノテクノロジー

型式L-trace Ⅱ

年式2012

外寸900x900x1500

展示場九州テクニカルセンター

価格商談中

ASK管理No.L70649

機械仕様試料ステージ:Φ150(6in)
スキャン方式 D/Aコンバーター制御
最大電圧±200V
スキャンローテーション 最大±180°
同時測定最大4
AC100 1.5A 50/60Hz

添付ファイル 動作チェックシート

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