半導体(後工程) 検査・評価・その他 膜厚測定機 2次元膜厚分布測定装置 メーカーJFEテクノリサーチ 型式FiDiCa(フィディカ) 年式2016 外寸W1590 D990 H1750 展示場塩山テクニカルセンター 価格4,807,000円(税込) ASK管理No.N70115 在庫確認・お問合せ 機械仕様測定物:半導体やフィルム 液膜 試料サイズ:A3(300mm×400mm) 膜厚測定範囲:100nm~150um 測定分解能:数nm 測定原理:分光干渉法 1軸スキャン 測定時間:約90s 入力電源:単相AC100V 50/60Hz 添付ファイル 動作チェックシート ※ 以下の画像をクリックをすると拡大します