2次元膜厚分布測定装置

メーカーJFEテクノリサーチ

型式FiDiCa(フィディカ)

年式2016

外寸W1590 D990 H1750

展示場塩山テクニカルセンター

価格4,180,000円(税込)

ASK管理No.N70115

機械仕様測定物:半導体やフィルム、液膜
試料サイズ:A3(300mm×400mm)
膜厚測定範囲:100nm~150um
測定分解能:数nm
測定原理:分光干渉法、1軸スキャン
測定時間:約90sec

添付ファイル 動作チェックシート

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