半導体(後工程) 検査・評価・その他 その他 波長位相差・透過率測定装置 メーカーAxometrics 型式AxoScan 年式2019 外寸W2200 D1200 H1800 展示場塩山テクニカルセンター 価格2,310,000円(税込) ASK管理No.O40395 在庫確認・お問合せ 機械仕様高速測定で試料のミュラーマトリクスを実測し、試料の光学特性を導き出す 架台付き光学実験台:HA-2012-150L(シグマ光機) 添付ファイル 動作チェックシート ※ 以下の画像をクリックをすると拡大します