半導体(後工程) 検査・評価・その他 膜厚測定機 分光エリプソメーター メーカージェーエーウーラムージャパン 型式M-2000U 年式 外寸 展示場塩山テクニカルセンター 価格商談中 ASK管理No.P50386 在庫確認・お問合せ 機械仕様PCセット、ライト電源、本体電源、テーブル 波長範囲:193-1690nm 射角範囲:20~90° 最大基板厚さ:18mm 電源:AC100/115/230/240V 50/60Hz 2/2.1/1/1A 添付ファイル 動作チェックシート ※ 以下の画像をクリックをすると拡大します