半導体(後工程) 検査・評価・その他 膜厚測定機 膜厚測定装置 メーカー大日本スクリーン 型式RE-3330 年式2013 外寸 展示場塩山テクニカルセンター 価格商談中 ASK管理No.P70073 在庫確認・お問合せ 機械仕様エリプソ式膜厚測定装置 波長:245.8~1687.3nm 対応ウェーハ径:4インチ/6インチ(5インチは、手のせ) 電源:AC100V 50/60Hz 添付ファイル 動作チェックシート ※ 以下の画像をクリックをすると拡大します