光干渉式膜厚測定器
メーカー大日本スクリーン
型式VM-1210
年式
外寸700×600×900
展示場
価格商談中
ASK管理No.PA0506
機械仕様測定領域:
φ5μm(10X対物レンズ)
φ2.5 μm(20X対物レンズ)
φ10 μm(5X対物レンズ)
φ1 μm(50X対物レンズ)(オプション)
膜厚測定範囲 :10nm~20μm(SiO2onSiを10X対物レンズで測定時)
測定時間:1秒以下(SiO2 on Siを10X対物レンズで測定時)
測定再現性(σ):
0.1nm(膜厚が10nm~3,000nmの場合)
0.03%(膜厚が3μm~20μmの場合)
添付ファイル
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