半導体(後工程) 検査・評価・その他 FESEM・CDSEM 走査電子顕微鏡(SEM卓上) メーカー日立ハイテクノロジーズ 型式TM-1000 年式2007 外寸 展示場塩山テクニカルセンター 価格商談中 ASK管理No.Q10279 在庫確認・お問合せ 機械仕様試料サイズ:φ70×20mm 倍率:20~10,000倍 加速電圧:15kV ノートPC、真空ポンプ、作業台付属 添付ファイル 動作チェックシート ※ 以下の画像をクリックをすると拡大します