XPS検査装置
メーカーアルバック・ファイ
型式PHI 5000 VersaProbe Ⅲ
年式
外寸-
展示場塩山テクニカルセンター
価格お問合せください
ASK管理No.Q20281
機械仕様資料サイズ:固体W40 D40 t8mmあるいは9×18×13tまで)
走査型マイクロフォーカスX線源:10~200μmのビーム径
添付ファイル
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型式PHI 5000 VersaProbe Ⅲ
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走査型マイクロフォーカスX線源:10~200μmのビーム径
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