半導体(後工程) 検査・評価・その他 FIB・原子間力顕微鏡 集束イオンビーム NG試料作製装置 メーカー日本電子データム 型式JEM-9310FIB 年式2008 外寸 展示場塩山テクニカルセンター 価格2,508,000円(税込) ASK管理No.TF1SA1 在庫確認・お問合せ 機械仕様イオン源:Ga液体金属イオン源 加速電圧:5~30KV(5kVステップ) イオンビーム加工形状:矩形・ライン・スポット 倍率:x50(視野探し) x150~300,000 添付ファイル 動作チェックシート ※ 以下の画像をクリックをすると拡大します