原子間力顕微鏡走査型プローブ顕微鏡

メーカーSII セイコーセイコー電子工業

型式SPA-300

年式1993

外寸

展示場塩山テクニカルセンター

価格売却済

ASK管理No.TF39A2

在庫確認・お問合せ

機械仕様絶縁物を含めた試料の微細形状を測定する。
試料サイズ:φ25mmx5mm以下
架台付き(MICRO-g)

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